NT-MDT LLC

Най-добро качество на изображението с вградена акустична и вибрационна изолация, активна термостабилизация, индустриално най-нисък шум на сензора за о...

Техниката Tip Enhanced Raman Scattering (TERS, nanoRaman) е метод за усилване на слаби Раманови сигнали и за суперразрешаваща Раманова визуализация с ...

Силовата спектроскопия е добре позната AFM техника за количествено определяне на локалните наномеханични свойства. HD режимът позволява бързи измерван...

В режим на HD Пиезоотговорна Сила Микроскопия (HD PFM) се прилага променливо напрежение към проводящия AFM кантилевер, когато върха влезе в контакт с ...

Ранното предупреждение и прогнозиране на влошаването на инженерните материали, работещи в екстремни условия, е приоритетна дейност в много индустриалн...

Хибридна електроника 2.0 - Характеристики Високоскоростни АЦП: 2 × 20 MHz, 16 бита Високопрецизни АЦП: 4 × 1 MHz, 18 бита ЦАП: 20 × 16 бита 1 MHz, 2 ...

Съвременната хибридна електроника 2.0 включва високоскоростни цифрови усилватели с заключване (LIA) и детектори с фазова заключеност (PLL) за напредна...

Новият цифров контролер PX Ultra превръща вашето рутинно SPM устройство в лесен за използване инструмент за научни пробиви и напреднали изследвания. К...

Атомно-силовата микроскопия е широко използвана и мощна техника за изследване на материали в наноразмерен диапазон. Въпреки това, техниката не е прост...

AFMSICMRaman тройна синергия на мощни нанохарактеризационни техники Режим на сканиране с йонна проводимост неконтактно изображение на живи клетки и по...

Техниката за подобрено Раманско разсейване (TERS, nanoRaman) е метод за усилване на слаби Рамански сигнали и за суперразрешаваща Раманска визуализация...

HD сканираща термална микроскопия (HD SThM) позволява изучаване на локалните термални свойства едновременно с измерванията на QNM. От гледна точка на ...

NTEGRA е многофункционално устройство за извършване на най-типичните задачи в областта на сканиращата пробна микроскопия. Устройството е способно да и...

Електрическата характеристика на обекти, които са слабо прикрепени към повърхността, винаги е била предизвикателство при използването на стандартни AF...

Водещо ниво на автоматизация в индустрията Изключителен шумов фон и термални отклонения Бърз скенер с XYZ нискошумен затворен контур Рутинна атомна ре...