Ntegra Marlin - Характеристики

AFMSICMRaman тройна синергия на мощни нанохарактеризационни техники Режим на сканиране с йонна проводимост неконтактно изображение на живи клетки и повърхности на желе QNM мощност на AFM и SICM количествени наномеханични изследвания Умен Patch Clamp автоматично насочване на нанопипети за изследвания на йонни канали Високоскоростно дългосрочно високоразрешаващо картографиране на нано ниво Нанопипети за наноинжекции с обратна връзка от SICM могат да се използват за локални субпиколитрови инжекции в единични клетки SICM (Сканираща йонна проводимостна микроскопия) е SPM техника, която използва нанопипета (остър стъклен електрод) за неконтактно 3D картографиране на повърхности с висока разделителна способност. В SICM, разстоянието между пробата и сондата се контролира чрез намаляване на йонния ток, преминаващ през върха, когато се приближава до повърхността на пробата. Biophys.Journ. 73, 653658 Контрол на позицията: капацитивни сензори с затворен контур по осите X, Y, Z XY обхват на движение: 30×30 μm (по избор до 100×100 μm) Z обхват на движение: 25 μm Точност на позицията по Z: 0.1 nm Приложения: SICM (Режим на сканиране), SECM, Умен Patch-Clamp, Микроинжекция, QNM, картографиране на pH Типично време за придобиване на изображение: по-малко от 5 минути (в зависимост от броя на точките и грубостта на пробата) Високопроизводителен AFM с нисък шум: Z шум <0.1 nm (RMS в диапазон 10-1000 Hz) Приложения на AFM: всички стандартни режими на изображение на AFM (40+), спектроскопия на сила-разстояние Ограничена от дифракция пространствена разделителна способност: <200 nm в XY, <500 nm в Z (с имерсионна обектив) Ешелонна решетка с ултрависока дисперсия; спектрална разделителна способност: 0.007 nm (<0.1 cm-1) Най-високата възможна разделителна способност на оптиката се използва едновременно с AFM/SICM: до 1.45 NA Двоен скан: сканиране по проба И сканиране по лазерен спот (за картографиране на Hot Spot в TERS)