ntegra dualscan

... Електрониката от ново поколение осигурява работа в режим на висока честота (до 5MHz). Тази функция е основна за работа с височестотни AFM режими и използване на височестотни кантилеври.* В NTEGRA са реализирани няколко типа сканиране: сканиране по пробата, сканиране по зонда и двойно сканиране. Поради това системата е идеална за изследване на малки проби с ултрависока резолюция (атомно-молекулярно ниво), както и за големи проби и сканиращ обхват до 100x100x10 µm. XY позициониране на пробата: 5x5 mm Резолюция на позициониране: четима резолюция - 5 µm, чувствителност - 2 µm...