Ntegra Spectra II - AFM-Raman-Nano-IR Системи

Високопроизводителен универсален AFM Оптичен достъп отгоре, отстрани и отдолу, оптимизиран за Раман, TERS и SNOM Гъвкав оптичен дизайн, предоставящ всяка комбинация от конфигурации за възбуждане/събиране Автоматизирано подравняване на лазера, пробата и фотодиода на AFM Лесна за потребителя смяна на дължината на вълната на лазера и фотодиода на системата за регистрация на AFM Лесна и удобна смяна на обективи Интеграция с IR sSNOM (по избор) От 1998 г. NTMDT успешно интегрира AFM с оптична микроскопия и спектроскопични техники. Поддържат се повече от 30 основни и напреднали AFM режима, включително HybriD ModeTM, предоставяйки обширна информация за физическите свойства на повърхността на пробата. Интеграцията на AFM с конфокална Раман/флуоресцентна микроскопия предоставя най-широк спектър от допълнителна информация за пробата. Симултанно измерени AFM и Раман карти на точно същата област на пробата предоставят допълнителна информация за физическите свойства на пробата (AFM) и химическия състав (Раман). Ограничена от дифракция пространствена резолюция:<200 nm в XY, <500 nm в Z (с имерсионен обектив) Високопроизводителен AFM с нисък шум: Z шум <0.1 nm (RMS в 10‑1000 Hz честотен диапазон) Ешелонна решетка с ултрависока дисперсия; спектрална резолюция: 0.007nm (< 0.1 cm‑1) Ниска вълнова дължина/THz Раман спектроскопия:<10 cm-1 с Браггови обемни филтри Сменяеми обективи с кинематични крепежи: прецизност <2 µm Двоен сканиране: сканиране по пробата И сканиране по лазерна точка (за картографиране на Hot Spot в TERS) Всички съществуващи TERS геометрии са налични: осветление/събиране отдолу, отгоре или отстрани