Ntegra Nano Ir - AFM-Raman-Nano-IR Системи

IR s‑SNOM микроскопия и спектроскопия с 10 nm пространствена резолюция Широк спектрален обхват на работа 312 μm Невероятно ниско термично дрейфане и висока стабилност на сигнала Универсален AFM с напреднали режими SRI (проводимост), KPFM (повърхностен потенциал), SCM (капацитет), MFM (магнитни свойства), PFM (пиезоелектрични сили) HybriD Mode™ количествено наномеханично картографиране Интеграция с microRaman (по избор) Възможност за s‑SNOM измервания в видимия спектрален обхват (по избор) NTMDT Spectrum Instruments представя NTEGRA Nano IR разсейващ сканиращ близкото поле оптичен микроскоп (s‑SNOM), проектиран за инфрачервен (IR) спектрален обхват. AFM сонда е разположена в фокуса на оптичната система, която възбужда структурата на пробата с IR лазер и събира оптичния отговор. Събраната светлина се насочва към интерферометър на Майкълсън за оптичен анализ. Широк спектрален обхват на работа: 3-12 μm Ниско шумен LN2 охладен MCT детектор: <30 nV/√Hz при хармоници на тактовата честота (100 kHz – 1 MHz) Високопроизводителен ниско шумен AFM: Z-шум <0.05 nm (RMS в 10-1000 Hz честотен обхват) Стабилна работа на AFM при високи температури: до 150 °C с стандартна отоплителна платформа Функция за фокусиране: пробата винаги остава на фокус благодарение на Z-обратната връзка на пробата