IMOS Интерференционен Микроскоп-нанопрофилометър - Нанопрофилометри

IMOS интерференционен микроскоп-нанопрофилометър позволява точни, количествени, съответстващи на ISO неконтактни измервания на повърхността и характеристиките на микро и нано мащаб, улавяйки до два милиона данни за секунди. Изборът на правилния оптичен профилометър зависи от изискванията на вашето приложение, включително скорост, точност, вертикален обхват, автоматизация и гъвкавост. IMOS оптичен повърхностен профилометър предлага мощна универсалност в неконтактните оптични измервания на повърхността. Системата улеснява и ускорява изследването на широк спектър от типове повърхности, включително гладки, груби, плоски, наклонени и стъпаловидни повърхности. Всички измервания са недеструктивни, бързи и не изискват специална подготовка на пробите. XY резолюция: 1 µm Измервателна площ: 0.4 x 0.3 mm * Размер на пиксел в измервателната площ: 0.3 µm * Фотодетектор**: CCD-матрица 1392х1040 Източник на светлина**: LED (λeff = 630 nm) Микрообективи**: 20x (или 10x, 5x), 2 броя без смяна на увеличение Скенер: Пиозоелектричен керамичен елемент Пробни платформи: 1D (Z) обхват 50 mm, 2D (XY) обхват 75x50 mm Контролери: CCD-камера, контролер на платформите, контролен модул на устройството PC & Контролен софтуер: Включен