Leica DM3 XL - Системата за инспекция на микроелектроника и полупроводници DM3 XL

Скоростта е важна при инспекцията, контрола на процесите или анализа на дефекти и повреди в микроелектронната и полупроводниковата индустрия. Колкото по-бързо се открие дефект, толкова по-бързо може да се реагира. С широкото поле на видимост, инспекционната система DM3 XL позволява на вашия екип да идентифицира дефектите по-бързо и да увеличи процента на добив. Възползвайте се от 30% увеличаване на полето на видимост на единствения макро обектив. Освен това, DM3 XL използва LED осветление за всички методи на контраст. LED осветлението осигурява постоянна цветова температура и предлага реалистични цветни изображения на всички нива на интензивност. - Увеличете своя добив - Надеждно откриване на недостатъчно развитие по ръба или в центъра на вафера. - Откриване на неравномерни дебелини на радиалния филм - Реалистични цветни изображения на всички нива на интензивност - Възпроизводими резултати