Leica DM3 XL - Инспекционната система за микроелектроника и полупроводниковата индустрия DM3 XL

При инспекция, контрол на процесите или анализ на дефекти и грешки в микроелектрониката и полупроводниковата индустрия, бързината е от съществено значение. Колкото по-бързо бъде открит дефект, толкова по-бързо може да се реагира. С уникалния макрообектив на DM3 XL вие се възползвате от 30% по-голямо зрително поле. Това ви позволява по-бързо откриване на дефекти и увеличава вашия производствен капацитет. Допълнително, DM3 XL използва LED осветление за всички методи на контраст. То осигурява постоянна цветна температура и ви предлага реалистично цветопредаване при всички нива на интензивност. - Увеличаване на производствения капацитет - Надеждно откриване на развойни грешки в ръба или в центъра на вафера - Разкриване на неравномерности в радиалните дебелини на слоевете - Естествено цветопредаване при всички нива на интензивност без необходимост от повторно регулиране - Възпроизводими резултати